能量色散X熒光光譜儀

廈門萊斯德科學(xué)儀器 — Tue, 11 Feb 2020 05:58:07 +0000

MD-GP8-SPR簡(jiǎn)介：

MD-GP8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），獨(dú)創(chuàng)的光路系統(tǒng)、散熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及軟件算法，使HeLeeX E8-SPR在測(cè)試精密度、準(zhǔn)確度和操作便捷性上超越國(guó)內(nèi)外同類產(chǎn)品，其卓越的性能被廣泛的應(yīng)用于RoHS/HF檢測(cè)、重金屬檢測(cè)、合金成分分析、貴金屬檢測(cè)、鍍層測(cè)試、土壤成分分析、礦石成分分析等領(lǐng)域，并得到權(quán)威第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、上市企業(yè)以及其他中小型知名企業(yè)用戶的一致好評(píng)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

1、電子電器中有害元素檢測(cè)：2011/65/EU(RoHS2.0) 、GB/T 26125-2011

2、金屬成份分析，金屬牌號(hào)識(shí)別

3、金屬成份分析，金屬牌號(hào)識(shí)別

4、食品安全：GB 2762-2005

5、皮革/玩具中重金屬檢測(cè)：ASTM F963指令、2009/48/EC指令

6、鍍層厚度測(cè)試：GB/T 16921-2005、ISO 3497:2000

7、貴金屬檢測(cè)，貴金屬回收：GBT 18043-2013

8、水質(zhì)檢測(cè)，電鍍液成分檢測(cè)，廢水排放檢測(cè)

測(cè)試性能：

RoHS /ELV無(wú)鹵指令（Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl），檢測(cè)范圍：5ppm-99.99%（鹵素檢測(cè)范圍：30ppm-90%）;
ASTM963－11指令（Pb、Cr、Ba、Hg、Cd、Sb、Se、As）;
2009/48/EC指令（Pb、Cr、Ba、Hg、Cd、Sb、Se、As、Co、Cu、Zn、Mn、Sr、Sn、Ni）;
鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等檢測(cè)范圍：001um-30um，11次重復(fù)性：0.05um（檢測(cè)最外層鍍層為1um左右時(shí)）；
合金分析：鋼鐵、銅類等成分分析，檢測(cè)元素范圍：Na-U，檢測(cè)濃度范圍：50ppm-99.99%。多次重復(fù)性：小于1%（含量5%左右）。
元素成分分析、礦物成分分析：能精確定量分析各種復(fù)雜樣品中元素分析，能通過(guò)測(cè)試鈣元素和硅元素的含量定量分析氧化鈣含量、氧化硅含量；測(cè)試濃度范圍：0.1-99.9%。測(cè)試穩(wěn)定性：0.3%。

儀器特點(diǎn)：

獨(dú)特可視化鉛玻璃防輻設(shè)計(jì)。
雙重迷宮設(shè)計(jì)，防輻設(shè)計(jì)。
安全連鎖設(shè)計(jì)，誤操作時(shí)，0.1μS快速切斷X射線。
X射線開(kāi)關(guān)鎖設(shè)計(jì)。
經(jīng)權(quán)威第三方檢測(cè)，X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。
三種樣品倉(cāng)尺寸，滿足各種規(guī)格樣品測(cè)試需求。
采用美國(guó)完整版原裝進(jìn)口一體式X-123半導(dǎo)體X射線探測(cè)器，其先進(jìn)的半導(dǎo)體制冷技術(shù)，高峰背比（信噪比），超高計(jì)數(shù)率，優(yōu)越的分辨率和穩(wěn)定性以及高集成化等特點(diǎn)，超越其他品牌或同品牌的組裝探測(cè)器。
HeLeeX E8-SPR采用模塊化分體式X射線準(zhǔn)直器技術(shù)，根據(jù)用戶需求，可快速配置Φ1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm準(zhǔn)直器。滿足樣品中不同大小點(diǎn)測(cè)試需求。

軟件特點(diǎn)：

EDXRF Workstation是禾苗儀器專有版權(quán)的配套使用軟件，操作軟件界面簡(jiǎn)潔、層次清晰、操作簡(jiǎn)單。配備中、英雙軟件操作界面。
EDXRF Workstation 具有數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信息的一鍵備份、一鍵恢復(fù)功能，可簡(jiǎn)單快速的備份、恢復(fù)儀器所有數(shù)據(jù)，從而保證測(cè)試系統(tǒng)的完整性和安全性。
EDXRF Workstation 具有X射線譜圖對(duì)比功能，方便用戶進(jìn)行材料中元素成分、含量差異對(duì)比功能。
EDXRF Workstation 具有3種定量方法、6種分析方法以及6種分析單位，從而保證測(cè)試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度，滿足各種測(cè)試需求。
EDXRF Workstation 具有多種報(bào)告模板樣式（用戶也可自行編輯修改優(yōu)化），且具有EXCEL、WORD、PDF三種報(bào)告格式。多點(diǎn)，多次數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，輕松計(jì)算最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差。軟件根據(jù)用戶設(shè)置的合格限值自動(dòng)判斷測(cè)試結(jié)果是否合格。

儀器配置：

名稱	參數(shù)	備注
X射線探測(cè)器	美國(guó)Amptek X-123 Si-PIN: l?Be窗厚度:1mil l?晶體面積:25mm^?2 l?信號(hào)處理系統(tǒng):DP5 l?最佳分辨率:145eV l?整體原裝進(jìn)口	完整進(jìn)口
X射線管	l?輸出電壓：0~50kV l?燈絲電流：0~2mA l?最大功率：50W l?靶材：Mo l?Be窗厚度：0.2mm l?使用壽命：2萬(wàn)小時(shí)	儀器配備光管自動(dòng)老化、預(yù)熱系統(tǒng)，延長(zhǎng)光管使用壽命。國(guó)產(chǎn)，科頤維
高壓電源	l?輸出電壓：0~50kV l?燈絲電流：0~2mA l?最大功率：50W l?8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%	國(guó)產(chǎn)，威絲曼
攝像頭	l?微焦距 l?免驅(qū)動(dòng) l?500萬(wàn)像素高清攝像頭	高清攝像頭，還具備放大功能，當(dāng)樣品含有雜質(zhì)或由幾個(gè)部分組成時(shí)，可以通過(guò)CCD管理器精確定位測(cè)量位置。通過(guò)樣品倉(cāng)上的透明玻璃門，可以隨時(shí)俯視觀察正在測(cè)試中的樣品。
光路系統(tǒng)	l?多種濾光片、準(zhǔn)直器自動(dòng)切換 l?Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm X射線光斑	根據(jù)用戶應(yīng)用實(shí)際需求配置或定制X射線光斑。
?	l?基于FPGA技術(shù)多功能控制系統(tǒng)
開(kāi)關(guān)電源	l?進(jìn)口高性能開(kāi)關(guān)電源
散熱風(fēng)扇	l?進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇

外圍配置：

序號(hào)	名稱	規(guī)格	數(shù)量
1	計(jì)算機(jī)	聯(lián)想高端商務(wù)電腦	1臺(tái)
2	打印機(jī)	佳能彩色噴墨打印機(jī) 最高分辨：4800x1200dpi	1臺(tái)
3	加密狗		1個(gè)
4	ERM-EC681K	進(jìn)口標(biāo)準(zhǔn)片	1片
5	ERM-EC680K	進(jìn)口標(biāo)準(zhǔn)片	1片
6	校正片	純銀	1片
7	樣品盒	木質(zhì)	1個(gè)
8	樣品杯	專用定制	2個(gè)
9	測(cè)試專用薄膜	XRF專用測(cè)試膜	1卷
10	手套	棉	2雙
11	剪刀	不銹鋼	1把
12	產(chǎn)品手冊(cè)		1本
13	儀器操作流程圖		2張
14	儀器保修卡		1張
15	儀器培訓(xùn)合格證	經(jīng)考核后頒發(fā)	1本/員
16	O型圈		5個(gè)
17	保險(xiǎn)絲		5個(gè)
18	防塵網(wǎng)		5片
19	干燥劑		2包
20	鼠標(biāo)墊		1個(gè)
注：儀器配件由于升級(jí)、優(yōu)化或應(yīng)用領(lǐng)域的不同，配件型號(hào)和數(shù)量可能有所不同。

豐富的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)數(shù)據(jù)庫(kù)：

部分英國(guó)、美國(guó)和國(guó)產(chǎn)銅合金、鋅合金、錫合金、鋼合金、PE、PVC、ABS、液體、粉末、貴金屬、食品等標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。
部分美國(guó)、德國(guó)、韓國(guó)、日本進(jìn)口Au、Ag、Cu、Sn、Zn、Ni、Pd、Ti、Pb等鍍層標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

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能量色散X熒光光譜儀